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Spettrometro fluorescente a raggi X a dispersione energetica EDX8800 (tipo vuoto)
Breve introduzione: Spettrometro di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia EDX8800 (tipo vuoto) Analisi elementare da sodio (Na) all'uranio (
Dettagli del prodotto
Dettagli:
Spettrometro fluorescente a raggi X a dispersione energetica EDX8800 (tipo vuoto)
Caratteristiche del prodotto
Adottando il rilevatore di deriva di silicio SDD (SILICON DRIFT DETECTOR) originale importato negli Stati Uniti, la risoluzione è più alta, migliorando notevolmente il limite di rilevamento degli elementi leggeri, il limite di rilevamento standard è 100 volte superiore al rilevatore SI-PIN; La gamma di misurazione è più ampia e copre fondamentalmente tutti i requisiti di analisi degli elementi dei materiali convenzionali;
2. configurare il sistema di elaborazione integrata dei dati di importazione originale degli Stati Uniti, acquisizione dei dati più veloce, misurazione più stabile, ripetibilità e stabilità a lungo termine migliore;
Configurare il software di misura dedicato di recente sviluppo, integrare diversi metodi di calcolo grafico, i dati di misura più precisi e più stabili;
4. il software monitora lo stato di funzionamento della componente principale dello strumento, l'uso è più veloce;
5. configurare un sistema di vuoto sviluppato appositamente, le prestazioni del vuoto sono migliori e i risultati della prova sono migliori;
Parametri tecnici:
Analisi elementare che va dal sodio (Na) all'uranio (U)
Analisi del contenuto di elementi da 1 ppm al 99,99%
Limite di rilevamento basso: 1ppm
Tempo di misurazione: 60-200 secondi (regolabile)
Alimentazione di funzionamento dello strumento: AC220 ± 5V
Risoluzione energetica 129±5eV
Grande corrente di uscita del tubo a raggi X: 1mA
Pressione massima: 6,7 x 10-2Pa
Dimensioni della cavità del campione: 610 * 320 * 100 (mm) (senza vuoto) / Φ100 * h75 (mm) (cavità del campione sotto vuoto)
Ripetibilità di misure multiple (in base al campione standard): ± 0,05% (alto contenuto) / ± 0,002% (microquantità)
Stabilità di lavoro a lungo termine (in base al campione standard) ±: 0,06% (alto contenuto) / ± 0,0025% (microquantità)
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