strisce70 nmSpazio, disposizione unidimensionale, precisione fino a ±0,25 nm. Certificati a banda e senza certificati. Lo spazio con il certificato richiede un riferimento ai numeri effettivi sul certificato. Strisce olografiche precise per microscopi ad alta risoluzione (25kx-1000kxCalibrazione precisa della direzione orizzontale, nonché calibrazione accurata degli strumenti su scala nanometrica, ecc. Caratteristiche di alta stabilità e applicabilità.

Dimensioni del silicio:4×3×0,5 millimetrifabbricazione di biossido di silicio (larghezza spinale)35 nmAlto.35 nmQuesto parametro non è calibrato).

Ci sono due modelli di prodotti offerti:Modello 70-1DeModello 70-1DUTCdi cui.Modello 70-1DCalibrazione del campione,Con certificazione del produttore,non rintracciabile;Modello 70-1DUTCCalibrazione del campione,Certificazione,Fonte rintracciabile,Certificazione (PTB, omologa tedesca del NISTdi).

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